VNA5000系列矢量网络分析仪，精准覆盖通信系统关键测试节点

VNA5000系列是优利德面向300kHz到22GHz/14GHz频段推出的矢量网络分析仪，提供2和4端口两种选择。它的核心任务是把测试能力推进到22GHz，同时通过4端口机型解决多端口器件、平衡器件和复杂网络的测量问题，主要面向射频器件、组件的研发和生产测试场景。

核心指标

VNA5000系列矢量网络分析仪可满足低频器件、移动通信频段，以及更高频段的测试需求。全系支持全双端口S参数测量，4端口机型进一步支持多端口器件、平衡器件和复杂网络，既可以做高分辨率扫描，也可以满足产线吞吐需求

动态范围：＞128dB（典型值）

测量点数：2~20001

迹线噪声：<0.015dBrms

扫描速度：40μs/points

频率分辨率：1Hz

频率准确度：±1ppm（5℃ 到 40℃）

中频带宽：10Hz~5MHz

主要功能

S参数测量

VNA5000系列支持完整的4端口S参数，从S11到S44共16个。绝对功率测量方面，2端口机型有4个独立接收机，支持8种绝对功率测量模式；4端口机型有8个独立接收机，支持32种绝对功率测量模式。数据格式方面，提供直角坐标、极坐标图和史密斯图三类显示方式。

校准能力

VNA5000系列可完成开路、短路、直通响应校准，增强响应校准，1端口校准，全2端口校准，全3端口校准，全4端口校准，支持多种标准校准件。

夹具仿真器

产品网络去嵌入功能通过2端口Touchstone数据文件，移去校准面和DUT之间的电缆、测试夹具等网络。端口参考阻抗转换功能，把50Ω下测得的测量值转换为任意端口阻抗下的测量值。匹配电路嵌入支持五种预定电路模型，也支持用户文件定义。4端口网络嵌入/去嵌入功能，通过4 端口Touchstone 数据文件，把所需4端口网络的数据添加或去除，支持布局 A、B、C 三类连接。端口延伸则通过为单端端口设置电延迟来移动校准参考位置。

平衡设备评估

VNA5000系列支持SE-Bal、Bal-Bal、SE-SE-Bal、Bal布局。通过平衡-不平衡转换，可以使用混合模S参数和不平衡参数进行测量。差动端口阻抗转换功能中，差模端口阻抗被设置为转换前两个不平衡端口阻抗值的两倍；共模端口阻抗则被设置为该值的一半。差动匹配电路嵌入支持并联 L-并联C模型和用户文件。要评估平衡设备，需要一台至少有三个测试端口的VNA5000系列仪器，这也是4端口机型的重要价值所在。

测量结果分析

VNA5000系列每条迹线最多可放置16个光标和1个参考光标。光标搜索支持最大值、最小值、目标值、峰值和带宽搜索。带宽测试用于测试带通滤波器的带宽；极限测试允许为每条迹线设置极限线，进行合格/不合格判断；纹波测试最多可以指定12个频带。时域变换支持带通和低通两种类型，可以模拟脉冲信号和阶跃信号的响应。

光标搜索

带宽测试

数据输出

VNA5000系列支持四种保存类别：仅状态、状态和校准数据、状态和迹线、状态、校准数据和迹线。可以保存到Touchstone文件，支持.s1p ，.s2p，.s3p，.s4p。数据格式包括线性幅度-角度、对数幅度-角度、实部-虚部。迹线数据可以保存为CSV文件。截屏方面，通Dump Screen Image To File功能，可以把当前屏幕保存为BMP或PNG图片文件，方便存档和报告使用。此外还提供打印输出，包括直接打印机输出和保存文件输出。

行业应用场景

优利德VNA5000系列矢量网络分析仪适用于AI数据中心高速互连、算力中心硬件验证、相控阵天线暗室 L/S/C/X 频段等测试场景，覆盖射频器件、多端口组件、平衡器件从研发调试到批量生产的全流程测试。