优利德发布67GHz高性能矢量网络分析仪，为AI算力爆发助力-电子发烧友网

AI大模型掀起算力狂飙，带动高速互连产业链快速升级。数据中心网络向800G、1.6T加速演进，PCIe 5.0/6.0接口普及，光电器件、高速线缆及PCB背板的工作频率持续抬升。面对激增的高频测试需求，优利德推出VNA7000系列矢量网络分析仪。主流型号覆盖10MHz至 67GHz ，支持 扩展至110GHz ，精准匹配1.6T光模块电气接口与下一代高速器件测试余量，为移动通信、雷达卫星、半导体、高速光电及科研教育等领域，提供从研发验证到工厂量产的一体化高频测试能力。

核心指标

10MHz–67GHz主流覆盖

· 频率范围：10MHz~67GHz

· 动态范围：>135dB(典型值)

· 测量点数：2~20001

· 迹线噪声：<0.002dBrms@10GHz

· 测量速度：30μs/points

· 频率分辨率：1Hz

· 频率准确度：±0.05ppm

VNA7000系列配备15.6 英寸1920*1080 TFT触摸屏，具有精确的误差修正与校准功能，可通过LAN和GPIB接口进行系统互联。脉冲测试能力方面，宽度范围1μs到30s，开关比64dB。此外，VNA7000系列可以与MES系统对接，实现工厂的自动化批量生产测试。

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扩展至110GHz，覆盖W波段

VNA7000系列主机频段覆盖至67GHz，并支持扩展至110GHz。作为毫米波器件测试的关键窗口，W波段集中了波导耦合器、毫米波放大器及卫星通信前端模块等核心器件的性能表征需求。扩频后，系统可精准完成波导器件的S参数测量与校准，充分满足5G毫米波，卫星通信、雷达等高频应用从研发到验收全阶段的严苛测试需求。

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聚焦三大核心应用场景

场景一：光波器件精准分析

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在光电测试应用中，VNA7000系列承担的是电域S参数测量平台的角色。待测件E/O、O/E转换的频响，需要配接O/E校准光模块，把光域信号转换回电域后送进VNA接收机，二者共同构成光电频响测试系统。系统建立后，可同时测量幅度和相位，待测件3dB带宽从频响曲线提取，群延迟从相位曲线导出。测量结果的准确性依托系统中标准探测器的绝对响应，通过去嵌剥掉夹具与适配网络的影响得到。系统可扩展到110GHz，轻松胜任更高速率的光电器件测量。

针对光电元件，其能获取电-光、光-电、光-光转换的宽带频响，所得结果具备溯源性与复现性，可服务于1.6T以上光模块的开发验证。

场景二：高速互连，信号完整性全面验证

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高速数字设计的信号完整性问题随数据率提升愈加严苛，信号迹线的每英寸插入损耗成为关键指标。VNA7000系列可测量PCB传输线的插入损耗、回波损耗和阻抗特性，支持时域分析功能用于定位走线中的阻抗不连续点。无论是高频板材的介电特性表征，还是高速背板互连结构的信号完整性验证，VNA7000系列都能适配研发与生产阶段使用。

场景三：多被测件，毫米波精密测量

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数据中心1.6T互连已迈入224G PAM4时代，单通道基频逼近56GHz，线缆上任何细微的阻抗起伏都会直接影响误码率，这对多端口射频器件与毫米波精密测量提出了更高要求。VNA7000系列矢量网络分析仪以10MHz～67GHz连续扫频、135dB大动态范围和差分四端口架构为基础，可高效完成插入损耗、回波损耗、TDR阻抗、近端/远端串扰及传播偏斜等参数表征，减少重复端口切换与测试配置时间，并通过时域门（Time Gating）与夹具去嵌入功能精准剥离连接器与转接头影响，还原铜缆、差分对及背板连接器的真实性能。在此基础上，凭借DDS架构的极速扫描以及配套开关矩阵，VNA7000系列可进一步缩短测试节拍、提升产线吞吐量与生产效率，有效兼顾研发深度验证与产线高效全检，满足1.6T高速互联、数据中心及多被测件的毫米波精密测量需求。

主要功能

校准能力

VNA7000系列可完成开路、短路、直通响应校准，增强响应校准，1端口校准，全2端口校准，全3端口校准，全4端口校准，支持多种标准校准件。

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S参数测量

VNA7000系列支持完整的四端口测量，S11到 S44 共 16 个参数，多端口器件的反射和传输特性都能完整表征。绝对功率测量方面，2端口机型配4个独立接收机，支持8种绝对功率测量模式；4端口机型配8个独立接收机，支持32种模式，接收机数量直接决定了多端口测量的并行能力。数据格式提供直角坐标、极坐标图和史密斯图三类显示，直角坐标下包括对数幅度、相位、扩展相位、正相位、群延迟、线性幅度、SWR、实部、虚部和阻抗幅度，用户可以根据被测件类型选最直观的显示方式。

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夹具仿真器

网络嵌入/去嵌入功能可通过Touchstone 数据文件添加或去除所需网络数据，支持 A、B、C 三类布局连接；其中去嵌入可用于移除校准面与DUT之间的电缆、测试夹具等网络。端口参考阻抗转换功能可将50Ω下测得的测量值转换为任意端口阻抗下的测量值。匹配电路嵌入支持五种预设电路模型，也支持用户自定义文件。端口延伸则通过为单端端口设置电延迟来移动校准参考位置。

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平衡设备评估

VNA7000系列平衡设备评估支持SE-Bal、Bal-Bal、SE-SE-Bal、Bal布局，覆盖单端到平衡、平衡到平衡、单端-单端到平衡以及平衡的器件类型。测量参数上，通过平衡-不平衡转换可以直接得到混合模S参数和不平衡参数，用来评估平衡器件的差模、共模和平衡度表现。阻抗转换支持差动端口和共模端口两种，差模端口阻抗取转换前两个不平衡端口阻抗值的两倍，共模端口阻抗取该值的一半。差动匹配电路嵌入支持并联L-并联C模型，也可以以用户文件定义。

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测量结果分析

VNA7000系列每条迹线最多可放置16个光标和1个参考光标。光标搜索支持最大值、最小值、目标值、峰值和带宽搜索。带宽测试用于测试带通滤波器的带宽；极限测试允许为每条迹线设置极限线，进行合格/不合格判断；纹波测试最多可以指定12个频带。时域变换支持带通和低通两种类型，可以模拟脉冲信号和阶跃信号的响应。

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