从一枚透镜的曲率,到一件吸盘的平面
从一处微米的缺陷
到一整个部件的全域数据——
超高精密零部件的每一次性能跃升
都藏在更精密的几何与表面之中
2026长春国际光电博览会
蔡司工业质量解决方案邀您共赴
一场“光学+精密”的深度融合
展会速览
长春国际会展中心 A1馆
蔡司展位:A1-B17
2026年6月12日至14日
光学透镜曲率趋势检测
高精度、不磨损
光学透镜是量测与DUV设备的关键零部件
曲率是否跑偏?粗磨是否整体变形?

ZEISS PRISMO 超高精度坐标测量机
搭载DotScan白光共聚焦测头
不损伤透镜表面,真实反映法线方向偏差
让曲率趋势,清晰可循
真空吸盘全尺寸测量
高精度,高效率
真空吸盘是刻蚀与薄膜沉积的关键承载部件
微米级公差,多层结构
全尺寸如何快速管控?

ZEISS O-INSPECT 大型复合式测量机
集成接触式、影像与白光共聚焦测头
不损伤陶瓷表面,全尺寸精准捕获。
效率提升,一机多测头,转台自由旋转——
让质量,全数掌控
微米级缺陷观察与测量
高倍率、一键成
工件表面复杂不平整
常规显微镜难以观察

ZEISS Smartzoom 5数码显微镜
大景深3D成像,复杂结构也能清晰观察
全电动控制,触摸屏操作
一键生成报告,简单便捷
让缺陷,无所遁形
石英 /硅类部件全域光学检测
全域扫描,反哺工艺
聚焦环、石英坩埚等耗材
全域色差、表面裂纹
传统测量无法有效反哺工艺

ZEISS ScanPort + ATOS Q
半自动化光学扫描,全域三维数据捕获
从“点测量”升级为“完整三维数据”
让工艺,有据可循
6月,我们相约长春
在光博会的展台上
蔡司邀您一同探寻
那些透镜之内、吸盘之上的精密边界
-
光电博览会
+关注
关注
0文章
31浏览量
7805 -
蔡司
+关注
关注
0文章
244浏览量
8386
发布评论请先 登录
兴森科技亮相CIOE 2026中国国际光电博览会
海伯森与您相约第27届中国国际光电博览会
晶众光电亮相2026韩国国际激光产业博览会
普源精电与您相约第64届中国高等教育博览会
大立科技邀您相约2026国际低空经济与无人系统博览会
机床精度,蔡司丈量——蔡司邀您亲临2026 CCMT
蔡司与您相约2026长春国际光电博览会——以百年光学,丈量光的精度
评论