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蔡司与您相约2026长春国际光电博览会——以百年光学,丈量光的精度

海阔天空的专栏 • 来源:蔡司 • 作者:厂商供稿 • 2026-06-11 14:56 • 次阅读
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从一枚透镜的曲率,到一件吸盘的平面
从一处微米的缺陷

到一整个部件的全域数据——

超高精密零部件的每一次性能跃升
都藏在更精密的几何与表面之中

2026长春国际光电博览会

蔡司工业质量解决方案邀您共赴

一场“光学+精密”的深度融合

展会速览

长春国际会展中心 A1馆

蔡司展位:A1-B17

2026年6月12日至14日

光学透镜曲率趋势检测

高精度、不磨损

光学透镜是量测与DUV设备的关键零部件
曲率是否跑偏?粗磨是否整体变形?

图片1.png

ZEISS PRISMO 超高精度坐标测量机

搭载DotScan白光共聚焦测头

不损伤透镜表面,真实反映法线方向偏差

让曲率趋势,清晰可循

真空吸盘全尺寸测量

高精度,高效率

真空吸盘是刻蚀与薄膜沉积的关键承载部件
微米级公差,多层结构

全尺寸如何快速管控?

图片2.png

ZEISS O-INSPECT 大型复合式测量机
集成接触式、影像与白光共聚焦测头

不损伤陶瓷表面,全尺寸精准捕获。
效率提升,一机多测头,转台自由旋转——
让质量,全数掌控

微米级缺陷观察与测量

高倍率、一键成

工件表面复杂不平整

常规显微镜难以观察

图片3.png

ZEISS Smartzoom 5数码显微镜

大景深3D成像,复杂结构也能清晰观察

全电动控制,触摸屏操作

一键生成报告,简单便捷

让缺陷,无所遁形

石英 /硅类部件全域光学检测

全域扫描,反哺工艺

聚焦环、石英坩埚等耗材
全域色差、表面裂纹

传统测量无法有效反哺工艺

图片4.png

ZEISS ScanPort + ATOS Q

半自动化光学扫描,全域三维数据捕获

从“点测量”升级为“完整三维数据”

让工艺,有据可循

6月,我们相约长春

在光博会的展台上

蔡司邀您一同探寻
那些透镜之内、吸盘之上的精密边界

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